Ключевые слова: FeSe, tapes, sheath, PIT process, fabrication, resistive transition, resistance, temperature dependence, critical caracteristics, Jc/B curves, microstructure
Majoros M., Sun Y., Collings E.W., Yang Y., Sumption M.D., Shi Z.X., Susner M.A., Ding Y., Li G.Z., Kovacs C.J., Zhuang J.C.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.